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イメージ解析スケール Applied Image    

   

  イメージ解析スケール スタンダードタイプ

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概要

 

   様々な2次元形状の正確な計測を必要とするイメージ解析

   に最適なマイクロメーターです。

  円・正方形・ライン等9種の幾何学パターンが1枚のガラス

   基板に蒸着されています。

 

特徴

 

  様々な2次元幾何学形状の正確な計測を必要とする画像解析に

   システムやビジョン計測システムの性能評価や性能管理に

   欠かせない校正用スケールです。

 

 

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  イメージ解析スケール 両軸(X,Y)スケールタイプ

 

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概要

 

 光学倍率・スケール目盛・カメラのアスペクト比など

   の正確なカリブレーションにも最適です。

 

特徴

 

 光学倍率・スケール目盛・カメラのアスペクト比など

   の正確なカリブレーションにも有用です。

 1枚のガラス基板上に、インチ規格・㎜規格の2種の

   十字線スケールがクローム蒸着されています。

 

 

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  イメージ解析スケール 高度分解能ターゲットチャート

 

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概要

 

   NIST/NBS1010A規格に基づきANS/ISO#2に準拠した

   精密な分解能ターゲットです。

 

特徴

 

 このターゲットは高倍率光学システムのフォーカシングテスト

   や分解能の決定に最適で各パターンの空間周波数(サイクル/㎜)

   が直読できシステムの正確な能力を迅速に評価できます。

 縦横5本づづのラインパターンの空間周波数は56~510サイクル

   /㎜までになります。

 

 

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  イメージ解析スケール ステップ型濃度(ND)ターゲット

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概要

 

 最新の精密なイメージビジョンシステムに必要な

  センシングシステムの照明及びデテクターのカリ

  ブレーション用ステップの濃度ターゲットです。

 

特徴

 

 最新のイメージビジョンシステムのセンシング部

   の照明及びデテクターのカリブレーション用と

   して設計されています。

 12ステップ(透過率0~100%)でセンシングシ

   ステムのリニアリテイー評価には最適なND

   ターゲットです。

 

 

 

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    イメージ解析スケール ライン/ドット スタンダードターゲット

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概要

 

 正確な測定が不可欠であるCCD・CMOSなどの幾何測定イメージ

   システムなどのカリブレーション用に設計された精密なライン

   ドット幅とドット直径のステージターゲットです。

 

特徴

 

 エレクトロニクスセンサーはピクセル振動によってしばしば見せ

   かけの解像力を示す場合がありますが、このターゲットの明確な

   寸法のラインやドットをテストに使用することにより

 この問題を大幅に抑制します。

 

 

                       

             

 

 

 

   

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                          *この商品はApplied Image社(米)の製品です

   

 

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